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    ST-20掌上型方塊電阻測試儀
    
         
    
          瀏覽次數：1260更新日期：2020-05-26 
         
    
         
    ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
     
    ◆ 特點：
    1
    		 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
    2
    		 低功耗
    3
    		 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
    4
    		 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
    5
    		 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
    6
    		 探頭帶抗靜電模塊
     
    ◆ 技術指標：
     
    測量范圍
    		基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
    擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
    測量不確定度
    		≤5%
    探針規格
    		 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
    恒流源
    		 測量過程誤差：≤±0.8%
    電源
    		 9V疊層電池1節
    
         
       
     
     
    
     
    
 
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